测量速度主要取决于测试布局。通常，一次测量耗时少于 5 分钟。

CmController 9 测量速度
测试计划 方法 元件数量 图像测量点 测量持续时间 [分:秒]
TQFP100 四重测量 12 1 <1:45
芯片簇 四重测量 (宽视场) 128 16 <0:45

实际上，这意味着一次测量通常需要不到 5 分钟。